考试内容及范围说明

821 自动控制原理

1、自动控制系统概述
2、控制系统的数学描述方法
控制系统的微分方程，非线性系统的线性化，传递函数，结构图与结构图化简。
3、控制系统的时域分析
二阶系统时域分析，高阶系统时域分析，稳定性分析，稳态误差分析。
4、根轨迹分析法
根轨迹作图的基本法则，根轨迹图的绘制，控制系统的根轨迹法分析。
5、频率分析法
典型环节的频率特性，开环频率特性作图，频域稳定性判据，开环频率特性分析。
6、控制系统的校正方法
根轨迹法校正设计，频率法串联校正设计，参考模型法校正设计，频率法反馈校正设计。
7、非线性系统分析
相平面分析法，描述函数法。
8、采样控制系统分析基础
开环脉冲传递函数，闭环脉冲传递函数，采样系统的稳定性分析。

822 信号与系统

1、信号的时域分析
2、系统的时域分析
3、信号的频域分析
4、系统的频域分析
5、连续信号与系统的复频域分析
6、离散信号与系统的复频域分析
7、系统的状态变量分析

823 半导体物理

1、常见半导体（Si，Ge，GaAs）的晶体结构、能带结构和物理性质
2、纯净半导体、掺杂半导体中电子状态，热平衡载流子浓度，以及相关温度特性；
3、载流子迁移率，电场作用下载流子漂移运动，半导体导电性，相关温度特性，以及霍尔效应；
4、非平衡载流子的复合-产生机理，载流子寿命，以及扩散运动特性，载流子连续性方程；
5、同质PN结特性、电流-电压特性、电容特性、击穿特性；
6、MOS结构特性、表面状态、电容-电压特性；
7、金属－半导体接触特性，异质结相关概念；